二硒化锆晶体 ZrSe2 (سيلينيد الزركونيوم)
晶体尺寸：~8毫米
电学性能：半导体
晶体结构：六边形
晶胞参数： a = b = 0.377، c = 0.614 نانومتر، α = β = 90 درجة، γ = 120 درجة
晶体类型：合成
晶体纯度： ＞99.995%

انحراف الأشعة السينية على بلورة واحدة ZrSe2 متوافقة على طول الطائرة (001). تم تنفيذ XRD في درجة حرارة الغرفة باستخدام D8 Venture Bruker. 4 قمم XRD تتوافق، من اليسار إلى اليمين، إلى (00l) مع l = 1، 2، 3، 4

مسحوق انحراف الأشعة السينية (XRD) من بلورة واحدة ZrSe2. تم تنفيذ انحراف الأشعة السينية في درجة حرارة الغرفة باستخدام جهاز D8 Venture Bruker.

تحليل استوكيومتري لبلورة واحدة ZrSe2 عن طريق الطيفية بالأشعة السينية المنتشرة للطاقة (EDX).

طيف رامان من بلورة واحدة ZrSe2. تم القياس باستخدام نظام رامان 785 نانومتر في درجة حرارة الغرفة.